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  • ZDJC-50KV全自動升降壓擊穿實(shí)驗(yàn)儀
    ZDJC-50KV全自動升降壓擊穿實(shí)驗(yàn)儀 ZDJC-50KV全自動升降壓擊穿實(shí)驗(yàn)儀(出具計(jì)量證書)主要適用于固體絕緣材料如:塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時間的測試。
  • JKJC-501kA型耐壓絕緣材料擊穿試驗(yàn)儀
    JKJC-501kA型耐壓絕緣材料擊穿試驗(yàn)儀 JKJC-501kA型耐壓絕緣材料擊穿試驗(yàn)儀可實(shí)時繪制試驗(yàn)曲線,顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù),判斷準(zhǔn)確,并可保存,分析,打印試驗(yàn)數(shù)據(jù)。并且能夠自動判別試樣擊穿并采集擊穿電壓數(shù)據(jù)及泄露電流,同時能夠在擊穿的瞬間電壓迅速...
  • FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試
    FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試 FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試是一款功能豐富的鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。
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    DZFE-5000W型電致應(yīng)變鐵電測試儀 DZFE-5000W型電致應(yīng)變鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置,這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄...
  • HTIM-400型絕緣材料電阻評價平臺
    HTIM-400型絕緣材料電阻評價平臺 HTIM-400型絕緣材料電阻評價平臺是一款針對于緣材料電阻評價平臺運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測量。該儀器設(shè)計(jì)符合《GB/T 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),并參考美...
  • GXDH-3型絕緣材料小電流電弧放電測試儀
    GXDH-3型絕緣材料小電流電弧放電測試儀 GXDH-3型絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電測試儀是一款符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn) 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及J...
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    PJMRY-30T型晶片及薄膜轉(zhuǎn)移真空熱壓機(jī) PJMRY-30T型晶片及薄膜轉(zhuǎn)移真空熱壓機(jī)是一款電動真空平板式真空熱壓機(jī),應(yīng)用于晶片的焊接或薄膜轉(zhuǎn)移處理,真空度可以達(dá)到 10-2 torr兩個精密的溫控系統(tǒng)可設(shè)置 30 段升降溫程序,控溫精度為&...
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    DETS-5000介電彈性體測試系統(tǒng) DETS-5000介電彈性體測試系統(tǒng)是一款采用高壓放大器信號源輸出0-3V頻率為1-10HZ的正弦波電壓信號,輸出到功率放大器中,通過功率放大器放大至0-1500V電壓,高電壓輸出到電活性異性電荷,產(chǎn)...
  • 鋰電池隔膜50點(diǎn)電極法測試儀
    鋰電池隔膜50點(diǎn)電極法測試儀 LGJC-50D鋰離子隔膜用50點(diǎn)電極法電壓擊穿試驗(yàn)儀該儀器是根據(jù)《GB/T 36363-2018 鋰離子電池用聚烯烴隔膜》、GB/T 13542-2006、IEC 60674-2:1988 電氣用塑...
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    ACDC-T3型三通道低溫耐陰極剝離試驗(yàn)機(jī) ACDC-T3型三通道低溫耐陰極剝離試驗(yàn)機(jī)是根據(jù)GB/T 23257-2017 《埋地鋼質(zhì)管道聚乙烯防腐層》,GB/T 7790-2008《色漆和清漆暴露在海水中的涂層耐陰極剝離性能的測定》,GB/T...
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    IET-1000型高溫動態(tài)彈性模量測試儀 IET-1000型高溫動態(tài)彈性模量測試儀(保護(hù)氣氛)采用脈沖激振法(IET), 該方法為動態(tài)無損檢測方法,可以準(zhǔn)確檢測各種固體材料的高溫彈性模量,測試項(xiàng)目包括楊氏模量、剪切模量、泊松比及阻尼比(內(nèi)耗)...
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    共面電極 精密D33測試儀(薄膜拉伸/創(chuàng)) 一、產(chǎn)品介紹:ZJ-3CN型壓電測試儀(靜壓電系數(shù)d33測量儀),PVDF壓電薄膜測試儀,在基礎(chǔ)的基礎(chǔ)上優(yōu)化了電路設(shè)計(jì),不僅僅可以同時增加了圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量,而且增...
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