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JKZC-UC系列高低溫探針臺是一款在非真空條件下實現(xiàn)低溫環(huán)境的測試探針臺。該產(chǎn)品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設(shè)備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏蔽無線電磁干擾，另外一方面也可以保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結(jié)霜。此設(shè)備對于一些有溫度需求的測試，尤其是低溫，運用非常廣泛。

JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規(guī)探針臺的功能基礎(chǔ)上,可用于晶圓和PCB板的測試，對晶圓或者PCB板正面和背面同時扎針以實現(xiàn)各種 光/電性能測試需求的測試，或背面點針，正面收集光線等,運用十分豐富。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項升級功能。

JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發(fā)的基礎(chǔ)型晶圓測試探針臺。其結(jié)構(gòu)緊湊，設(shè)計精密，價格實惠，配置靈活，高性價比。在高等院校教學(xué)和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用，配合對應(yīng)的儀器儀表，用于測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。

GDWT-480型全自動型高低溫真空探針臺主要應(yīng)用于I-V/C-V，PIV測試,傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電子樣品測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本，可以配合Keithley,Tektronix等國內(nèi)外各種源表對材料進行測試，可以做材料的介電，鐵電等測試,是目前高等院校和研究所及材料生產(chǎn)單位的重要輔助設(shè)備。